Thiết bị quang phổ nhiễu xạ tia X (Multi-purpose X-Ray Diffraction) là một công cụ phân tích quan trọng trong lĩnh vực nghiên cứu vật lý và hóa học, được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc tinh thể của các vật liệu. Chức năng chính của thiết bị này bao gồm:
– Phân tích cấu trúc tinh thể;
– Xác định hợp chất và pha tinh thể;
– Đánh giá cấu trúc bề mặt và cấu trúc tương quan;
– Nghiên cứu tính chất tinh thể và đặc tính vật lý;
– Ứng dụng trong nghiên cứu và công nghiệp.
- Kiểu dáng: SmartLab XE
- Hãng sản xuất: Rigaku
- Xuất xứ: Nhật Bản
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.