Máy đo chiều dày màng mỏng

Máy đo chiều dày màng mỏng (Stylus Profiler) là một công cụ phân tích quan trọng trong lĩnh vực nghiên cứu và công nghiệp, được sử dụng để đo lường độ dày và các tính chất bề mặt của các lớp màng mỏng trên các bề mặt rắn. Chức năng chính của máy đo chiều dày màng mỏng bao gồm:
– Đo lường độ dày;
– Phân tích bề mặt;
– Đánh giá chất lượng và độ thô của bề mặt;
– Kiểm tra đặc tính cơ học và quang học;
– Ứng dụng trong nghiên cứu và phát triển sản phẩm.

  • Kiểu dáng: DektakXT
  • Hãng sản xuất: Bruker
  • Xuất xứ: Malaysia

Mô tả

– Khả năng đo: đo biến dạng bề mặt 2D
– Quan sát mẫu: Phóng đại kỹ thuật số, FOV thẳng đứng 0,275 đến 2,2 mm
– Lực đầu đo: 1 đến 15 mg với cảm biến LIS 3
– Bàn mẫu X /Y: X/Y 100 mm (4 in.), cân bằng thủ công
– Bàn mẫu R-Theta: Thủ công, liên tục 360 độ
– Cách ly rung động
– Điểm dữ liệu mỗi lần quét: tối đa 120.000
– Độ dày mẫu tối đa: 50 mm
– Kích thước wafer tối đa : 200 mm
– Độ cao bước lặp lại: 4Å, 1 sigma trên các bước ≤1 µm
– Dải theo chiều thẳng đứng: 1 mm
– Độ phân giải theo chiều thẳng đứng: 1Å

Chúng tôi sẵn lòng trả lời các câu hỏi liên quan tới sản phẩm, dự án mà quý khách hàng đang có nhu cầu!

Đánh giá

Chưa có đánh giá nào.

Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy đo chiều dày màng mỏng”

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *

Go to Top