Kính hiển vi điện tử quét

Kính hiển vi điện tử quét (Scanning Electron Microscope, SEM) là một công cụ quan trọng trong lĩnh vực nghiên cứu và phân tích hình ảnh. Chức năng chính của SEM là tạo ra hình ảnh chi tiết về các mẫu vật liệu ở mức vi mô và nanô bằng cách sử dụng tia electron chùm để quét mẫu. Dưới đây là một số chức năng quan trọng của SEM:
– Hình ảnh chi tiết với độ phóng đại cao;
– Phân tích hình dạng và kích thước;
– Xác định thành phần hóa học;
– Nghiên cứu cấu trúc vật liệu;
– Ứng dụng trong khoa học và công nghiệp;
– Khả năng tạo hình 3D.

  • Kiểu dáng: JSM-IT200
  • Hãng sản xuất: Jeol
  • Xuất xứ: Nhật Bản

Mô tả

Thế gia tốc:
– 53 bước
– 0,5 đến 3 kV: Bước 100 V
– 3 đến 30 kV: Bước 1 kV
– Độ phân giải:
Chế độ chân không cao
Ảnh điện tử thứ cấp (SEI):
+ 3,0 nm (Thế gia tốc 30 kV, khoảng cách làm việc 8 mm)
+ 8,0 nm (Thế gia tốc 3 kV, khoảng cách làm việc 6 mm)
+ 15,0 nm (Thế gia cấp 1 kV, khoảng cách làm việc 6 mm)
Chế độ chân không thấp:
Ảnh điện tử tán xạ ngược (BEI):
– 4.0 nm (Thế gia tốc 30 kV, khoảng cách làm việc 5 mm)
– Tín hiệu ảnh:
Chế độ chân không cao
+ SEI (Đầu thu E.T)
+ BEI (Thành phần, địa hình và ảnh lập thể bởi đầu thu bán dẫn)
Chế độ chân không thấp
+ BEI (Thành phần, địa hình và ảnh lập thể bởi đầu thu bán dẫn)
– Độ phóng đại
+ Độ phóng đại hiển thị: 14 lần đến 839724 lần (Kích thước màn hình: 358 mm x 269 mm)
– Dòng điện tử: 1 pA đến 1 µA khi sử dụng với khẩu độ tháo lắp được
– Dải áp suất: 10 Pa đến 100 Pa

Chúng tôi sẵn lòng trả lời các câu hỏi liên quan tới sản phẩm, dự án mà quý khách hàng đang có nhu cầu!

Đánh giá

Chưa có đánh giá nào.

Hãy là người đầu tiên nhận xét “Kính hiển vi điện tử quét”

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *

Go to Top