Hệ đo điện trở bốn mũi dò

Được sử dụng trong các ứng dụng đo lường điện trở, chẳng hạn như trong việc kiểm tra và đánh giá các thành phần điện tử, mạch điện tử hoặc các vật liệu có tính chất điện trở. Hệ thống này thường được dùng để đo điện trở của các linh kiện, bảng mạch in, dây dẫn, hoặc để kiểm tra các vật liệu dẫn điện khác

  • Kiểu dáng: Multiposition Wafer Probe with RM3000 + Test Unit
  • Hãng sản xuất: Jandel Engineering Limited
  • Xuất xứ: Anh

 

Mô tả

  • Trở kháng vào 1.000.000.000.000 ohms
  • Dải dòng không đổi 10nA đến 100mA với độ chính xác đảm bảo 0.3% trên toàn dải
  • Từ -1000mV đến +1000mV DVM với độ chính xác đảm bảo 0.3% trên toàn dải
  • Chế độ DVM độ phân giải cao từ -125mV đến +125mV với độ chính xác đảm bảo 0.1%
  • Tốc độ lấy mẫu 8 đến 10 mẫu mỗi giây
  • Điện áp tuân thủ 24V với giới hạn công suất tự động
  • 16 bit DAC cho nguồn dòng
  • 24 bit ADC cho DVM
  • Bộ nhớ tích hợp: 50 phép đo
  • Dòng điện: 10nA – 100mA, có thể đảo ngược để xác minh tiếp xúc và đo lường
  • Độ chính xác: Tốt hơn 0,1% so với điện trở từ 100nA trở lên
  • Kết nối: USB hoặc RS-232
  • Đế dò đa vị trí:

  • Kích thước mẫu: wafer 150mm
  • Độ dày mẫu tối đa: Có thể đo mẫu dày đến 4mm
  • Đầu dò bốn điểm:

  • Dung sai: +/- 10 microns
  • Đầu kim: Tungsten carbide đường kính 0,4mm (đường kính 0,3mm cho khoảng cách gần nhau)
  • Thu vào pad: 0,5 mm
  • Độ phẳng: +/- 0,025mm

Chúng tôi sẵn lòng trả lời các câu hỏi liên quan tới sản phẩm, dự án mà quý khách hàng đang có nhu cầu!

Đánh giá

Chưa có đánh giá nào.

Hãy là người đầu tiên nhận xét “Hệ đo điện trở bốn mũi dò”

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *

Go to Top